TY  - JOUR
AU  - Till Hartmut Metzger
AU  - Tobias Urs Schülli
AU  - Martin Schmidbauer
TI  - X-ray methods for strain and composition analysis in self-organized semiconductor nanostructures
JO  - Comptes Rendus. Physique
PY  - 2005
SP  - 47
EP  - 59
VL  - 6
IS  - 1
PB  - Elsevier
DO  - 10.1016/j.crhy.2004.11.002
LA  - en
ID  - CRPHYS_2005__6_1_47_0
ER  -