TY  - JOUR
AU  - Laurent Béchou
AU  - Yves Danto
AU  - Jean-Yves Deletage
AU  - Frédéric Verdier
AU  - Yannick Deshayes
AU  - Sébastien Fregonèse
AU  - Cristell Maneux
AU  - Thomas Zimmer
AU  - Dominique Laffitte
TI  - Challenges and potential of new approaches for reliability assessment of nanotechnologies
JO  - Comptes Rendus. Physique
PY  - 2008
SP  - 95
EP  - 109
VL  - 9
IS  - 1
PB  - Elsevier
DO  - 10.1016/j.crhy.2007.12.001
LA  - en
ID  - CRPHYS_2008__9_1_95_0
ER  -