TY  - JOUR
AU  - Thomas Pardoen
AU  - Marie-Sthéphane Colla
AU  - Hosni Idrissi
AU  - Behnam Amin-Ahmadi
AU  - Binjie Wang
AU  - Dominique Schryvers
AU  - Umesh K. Bhaskar
AU  - Jean-Pierre Raskin
TI  - A versatile lab-on-chip test platform to characterize elementary deformation mechanisms and electromechanical couplings in nanoscopic objects
JO  - Comptes Rendus. Physique
PY  - 2016
SP  - 485
EP  - 495
VL  - 17
IS  - 3-4
PB  - Elsevier
DO  - 10.1016/j.crhy.2015.11.005
LA  - en
ID  - CRPHYS_2016__17_3-4_485_0
ER  -