Publié le : 2004-10-01
DOI : 10.1016/S1631-0705(04)00196-3

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Comité de rédaction. Comptes Rendus. Physique, Fundamental metrology, Volume 5 (2004) no. 8, p. IFC. doi: 10.1016/S1631-0705(04)00196-3