Nous présentons ici la caractérisation électrique d'une matrice de dispositifs à base de film de nanotubes de carbone par la méthode TLM. Elle nous a permis de montrer que les résistances de contact obtenues étaient quatre ordres de grandeur en dessous de l'état de l'art. La dispersion des caractéristiques au sein de la matrice s'avère suffisamment faible pour être compatible avec la réalisation d'un imageur. Une décroissance de la résistance avec la température a été mesurée, et donne une TCR de . La forte absorption des films de nanotubes de carbone dans les bandes infrarouges de transmission atmosphérique (3–5 μm et 8–14 μm), nous a permis d'observer les premières photo-réponses à ces longueurs d'onde.
A large array of devices based on a carbon nanotubes film was realized. Electrical characterization by the transfer length method enables the determination of the sheet resistance, and contact resistance, which is extremely low. The resistance dispersion is shown to be due to the film non-uniformity, and is low enough to enable the realization of bolometer focal plane arrays. A decrease of the resistance with the temperature is observed and leads to a TCR of . The strong absorption of carbon nanotubes films in the mid infrared transmission band (3–5 μm and of 8–14 μm) enables us to demonstrate the first carbon nanotubes photo response for these wavelengths.
Mot clés : Nanotubes de carbone, Détecteur infrarouge, Dispersion des caractéristiques
Charlie Koechlin 1, 2 ; Sylvain Maine 2 ; Stéphanie Rennesson 1, 2 ; Riad Haidar 1 ; Brigitte Trétout 1 ; Annick Loiseau 3 ; Jean-Luc Pelouard 2
@article{CRPHYS_2010__11_5-6_405_0, author = {Charlie Koechlin and Sylvain Maine and St\'ephanie Rennesson and Riad Haidar and Brigitte Tr\'etout and Annick Loiseau and Jean-Luc Pelouard}, title = {Opto-electrical characterization of infrared sensors based on carbon nanotube films}, journal = {Comptes Rendus. Physique}, pages = {405--410}, publisher = {Elsevier}, volume = {11}, number = {5-6}, year = {2010}, doi = {10.1016/j.crhy.2010.06.005}, language = {en}, }
TY - JOUR AU - Charlie Koechlin AU - Sylvain Maine AU - Stéphanie Rennesson AU - Riad Haidar AU - Brigitte Trétout AU - Annick Loiseau AU - Jean-Luc Pelouard TI - Opto-electrical characterization of infrared sensors based on carbon nanotube films JO - Comptes Rendus. Physique PY - 2010 SP - 405 EP - 410 VL - 11 IS - 5-6 PB - Elsevier DO - 10.1016/j.crhy.2010.06.005 LA - en ID - CRPHYS_2010__11_5-6_405_0 ER -
%0 Journal Article %A Charlie Koechlin %A Sylvain Maine %A Stéphanie Rennesson %A Riad Haidar %A Brigitte Trétout %A Annick Loiseau %A Jean-Luc Pelouard %T Opto-electrical characterization of infrared sensors based on carbon nanotube films %J Comptes Rendus. Physique %D 2010 %P 405-410 %V 11 %N 5-6 %I Elsevier %R 10.1016/j.crhy.2010.06.005 %G en %F CRPHYS_2010__11_5-6_405_0
Charlie Koechlin; Sylvain Maine; Stéphanie Rennesson; Riad Haidar; Brigitte Trétout; Annick Loiseau; Jean-Luc Pelouard. Opto-electrical characterization of infrared sensors based on carbon nanotube films. Comptes Rendus. Physique, Volume 11 (2010) no. 5-6, pp. 405-410. doi : 10.1016/j.crhy.2010.06.005. https://comptes-rendus.academie-sciences.fr/physique/articles/10.1016/j.crhy.2010.06.005/
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