On a generalized X-ray transform and a new method for defect detection using the medium electronic density

Mai K. Nguyen; T.Tuong Truong

doi:10.1016/S1631-073X(03)00010-4

Theory of Signals

On a generalized X-ray transform and a new method for defect detection using the medium electronic density
[Sur une transformation de type rayons X généralisée et une nouvelle méthode de détection de défauts utilisant la densité électronique en contrôle non-destructif]

Présenté par : Huy Duong Bui

Mai K. Nguyen ¹ ; T.Tuong Truong ²

¹ Équipe traitement des images et du signal (CNRS UMR 8051/ENSEA/Université de Cergy-Pontoise), 6, avenue du Ponceau, 95014 Cergy-Pontoise, France
² Laboratoire de physique théorique et modélisation (CNRS UMR8089/Université de Cergy-Pontoise), 5, mail Gay-Lussac, 95031 Cergy-Pontoise, France

Comptes Rendus. Mathématique, Volume 336 (2003) no. 2, pp. 195-200.

Résumé
Abstract

On considère une généralisation de la transformation de type rayons X, qui associe à une fonction $f (V)$ définie dans $ℛ^{3}$ ses intégrales sur une paire de lignes droites parallèles, au lieu d'une ligne droite comme dans le cas de la transformation conventionnelle de type rayons X. Elle provient de la formation d'image par le rayonnement doublement diffusé par effet Compton en imagerie par transmission. La reconstruction de $f (V)$ est présentée comme un problème inverse de cette transformation généralisée de type rayons X. Exploitant la dualité entre les lignes droites parallèles dans la nouvelle transformation, on montre de façon équivalente que $f (V)$ vérifie une équation intégrale non-linéaire, pour laquelle des solutions spéciales peuvent être construites. Ces solutions peuvent servir de base à une nouvelle méthode de détection de défauts par le biais de la densité électronique du milieu en contrôle non-destructif.

We consider a generalization of the X-ray transform which maps a function $f (V)$ defined in $ℛ^{3}$ onto its integrals over a pair of parallel straight lines and not over a single straight line as in a conventional X-ray transform. This new transformation arises from the image formation by double Compton-scattered radiation in transmission imaging. The problem of reconstructing $f (V)$ from its line pair integrals is formulated as an inverse problem for this generalized X-ray transform. Exploiting the line duality in the new transformation, we derive an equivalent nonlinear integral equation for $f (V)$ . Special classes of solutions can be constructed. They may serve as basis for a new method of defect detection, using the medium electronic density, in non-destructive inspection.

Reçu le : 2002-10-24
Accepté le : 2002-11-12
Publié le : 2003-01-15

DOI : 10.1016/S1631-073X(03)00010-4

Affiliations des auteurs :

Mai K. Nguyen ¹ ; T.Tuong Truong ²

¹ Équipe traitement des images et du signal (CNRS UMR 8051/ENSEA/Université de Cergy-Pontoise), 6, avenue du Ponceau, 95014 Cergy-Pontoise, France
² Laboratoire de physique théorique et modélisation (CNRS UMR8089/Université de Cergy-Pontoise), 5, mail Gay-Lussac, 95031 Cergy-Pontoise, France

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Mai K. Nguyen; T.Tuong Truong. On a generalized X-ray transform and a new method for defect detection using the medium electronic density. Comptes Rendus. Mathématique, Volume 336 (2003) no. 2, pp. 195-200. doi : 10.1016/S1631-073X(03)00010-4. https://comptes-rendus.academie-sciences.fr/mathematique/articles/10.1016/S1631-073X(03)00010-4/

Bibliographie
Cité par

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