[Spectroscopie de photoémission X à haute énergie dans les matériaux fortement corrélés]
La spectroscopie de photoémission avec rayons X de haute énergie (Hard X-ray PhotoEmission Spectroscopy, ou HAXPES) est une nouvelle technique qui utilise le rayonnement synchrotron pour l'étude des propriétés électroniques de volume dans les solides. Nous présentons ici les derniers développements du HAXPES, en particulier en ce qui concerne le projet VOLPE, qui montrent que une haute résolution en énergie et une grande sensibilité au volume peuvent être obtenues pour des énergie cinétiques de 6–8 keV. Nous présentons aussi des résultats récents obtenus dans des matériaux fortement corrélés, comme le V2O3 et les manganites, qui montrent comment les phénomènes d'écrantage sont différents dans le volume par rapport à la surface.
Hard X-ray PhotoEmission Spectroscopy (HAXPES) is a new tool for the study of bulk electronic properties of solids using synchrotron radiation. We review recent achievements of HAXPES, with particular reference to the VOLPE project, showing that high energy resolution and bulk sensitivity can be obtained at kinetic energies of 6–8 keV. We present also the results of recent studies on strongly correlated materials, such as vanadium sesquioxide and bilayered manganites, revealing the presence of different screening properties in the bulk with respect to the surface. We discuss the relevant experimental features of the metal–insulator transition in these materials.
Mot clés : Photoémission à haute résolution, Analyseur d'électrons, Systèmes corrélés
Giancarlo Panaccione 1 ; Francesco Offi 2 ; Maurizio Sacchi 3, 4 ; Piero Torelli 5
@article{CRPHYS_2008__9_5-6_524_0, author = {Giancarlo Panaccione and Francesco Offi and Maurizio Sacchi and Piero Torelli}, title = {Hard {X-ray} {PhotoEmission} {Spectroscopy} of strongly correlated systems}, journal = {Comptes Rendus. Physique}, pages = {524--536}, publisher = {Elsevier}, volume = {9}, number = {5-6}, year = {2008}, doi = {10.1016/j.crhy.2007.04.005}, language = {en}, }
TY - JOUR AU - Giancarlo Panaccione AU - Francesco Offi AU - Maurizio Sacchi AU - Piero Torelli TI - Hard X-ray PhotoEmission Spectroscopy of strongly correlated systems JO - Comptes Rendus. Physique PY - 2008 SP - 524 EP - 536 VL - 9 IS - 5-6 PB - Elsevier DO - 10.1016/j.crhy.2007.04.005 LA - en ID - CRPHYS_2008__9_5-6_524_0 ER -
%0 Journal Article %A Giancarlo Panaccione %A Francesco Offi %A Maurizio Sacchi %A Piero Torelli %T Hard X-ray PhotoEmission Spectroscopy of strongly correlated systems %J Comptes Rendus. Physique %D 2008 %P 524-536 %V 9 %N 5-6 %I Elsevier %R 10.1016/j.crhy.2007.04.005 %G en %F CRPHYS_2008__9_5-6_524_0
Giancarlo Panaccione; Francesco Offi; Maurizio Sacchi; Piero Torelli. Hard X-ray PhotoEmission Spectroscopy of strongly correlated systems. Comptes Rendus. Physique, Volume 9 (2008) no. 5-6, pp. 524-536. doi : 10.1016/j.crhy.2007.04.005. https://comptes-rendus.academie-sciences.fr/physique/articles/10.1016/j.crhy.2007.04.005/
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