Comptes Rendus
no. 10
Polarized confocal theta microscopy
[Microscopie confocale theta polarisée]
Olivier Haeberlé1  ; Hiromitsu Furukawa2  ; Koji Tenjimbayashi2
1 Groupe LabEl – Laboratoire MIPS, Université de Haute-Alsace IUT Mulhouse, 61, rue A. Camus, 68093 Mulhouse cedex, France
2 OptMec, Photonics Research Institute, AIST, Namiki 1-2, Tsukuba, Ibaraki 305-8564, Japan
Comptes Rendus. Physique, Volume 3 (2002) no. 10, pp. 1445-1450.

Nous présentons un modèle pour la microscopie de fluorescence theta basé sur le rayonnement dipolaire, qui décrit mieux le phénomène de fluorescence que le modèle isotropique, car l'émission de fluorescence est souvent polarisée. Les formules décrivant la tache de diffraction pour la microscopie de fluorescence polarisée en montage theta sont données. Des exemples sont donnés, et certains avantages à utiliser la polarisation en microscopie de fluorescence theta sont présentés.

We propose a comprehensive treatment of theta microscopy based on dipole emission, which better describes fluorescence emission than the isotropic emission model, as fluorescence emission is often polarized. Formulas describing the point spread function for polarized confocal fluorescence theta microscopy are given. Examples are given and some advantages of polarized theta fluorescence microscopy are presented.

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DOI : 10.1016/S1631-0705(02)01406-8
Keywords: fluorescence microscopy, reflection microscopy, theta microscopy
Mot clés : microscopie de fluorescence, microscopie en réflexion, microscopie theta
Olivier Haeberlé 1 ; Hiromitsu Furukawa 2 ; Koji Tenjimbayashi 2

1 Groupe LabEl – Laboratoire MIPS, Université de Haute-Alsace IUT Mulhouse, 61, rue A. Camus, 68093 Mulhouse cedex, France
2 OptMec, Photonics Research Institute, AIST, Namiki 1-2, Tsukuba, Ibaraki 305-8564, Japan 
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Olivier Haeberlé; Hiromitsu Furukawa; Koji Tenjimbayashi. Polarized confocal theta microscopy. Comptes Rendus. Physique, Volume 3 (2002) no. 10, pp. 1445-1450. doi : 10.1016/S1631-0705(02)01406-8. https://comptes-rendus.academie-sciences.fr/physique/articles/10.1016/S1631-0705(02)01406-8/

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