Comptes Rendus
Nanophotonics and near field / Nanophotonique et champ proche
Raman spectroscopy and polarization: Selected case studies
[Spectroscopie Raman et polarisation sur des cas dʼétude choisis]
Comptes Rendus. Physique, Volume 13 (2012) no. 8, pp. 837-852.

A travers quelques cas dʼétude choisis, nous mettons en évidence les bénéfices potentiels qui peuvent être tirés en contrôlant les états de polarisation des radiations excitatrice et diffusée dans une expérience de diffusion Raman. Couplée à un contrôle de la polarisation, la spectroscopie Raman est ainsi capable de fournir des informations supplémentaires sur les propriétés structurelles des matériaux étudiés. Les exemples dʼexpériences présentés dans ce travail proviennent à la fois du domaine de la spectroscopie Raman conventionnelle (c.-à-d., en champ lointain) et de celui de la spectroscopie en champ proche. Ils couvrent des sujets tels que la mesure du tenseur des efforts dans une structure semiconductrice contrainte, lʼattribution des modes de vibration dans des couches minces de pentacène et la détermination du tenseur de diffusion Raman à partir de mesures en champ proche sur des monocouches dʼazobenzène. La théorie de base nécessaire à la modélisation des réponses Raman polarisé en champs proche et lointain est également présentée et lʼefficacité des modèles est illustrée sur les données expérimentales.

We show, through several selected case studies, the potential benefits that can be obtained by controlling the polarization states of the exciting and scattered radiations in a Raman scattering experiment. When coupled with polarization control, Raman spectroscopy is thus capable of providing extra information on the structural properties of the materials under investigation. The experimental examples presented in this work are taken from the area of both conventional, i.e., far-field, as well as from near-field Raman spectroscopy. They cover topics such as the stress tensor measurement in strained semiconductor structures, the vibration mode assignment in pentacene thin films and the Raman scattering tensor determination from near-field measurements on azobenzene monolayers. The basic theory necessary for modelling the far- and near-field polarized Raman responses is also given and the model efficiency is illustrated on the experimental data.

Publié le :
DOI : 10.1016/j.crhy.2012.06.001
Keywords: Raman spectroscopy, TERS, Polarization, Stress measurement
Mot clés : Spectroscopie Raman, Champ proche, Polarisation, Mesure de contraintes

Razvigor Ossikovski 1 ; Gennaro Picardi 1 ; Gérald Ndong 1 ; Marc Chaigneau 1

1 LPICM, École polytechnique, CNRS, 91128 Palaiseau cedex, France
@article{CRPHYS_2012__13_8_837_0,
     author = {Razvigor Ossikovski and Gennaro Picardi and G\'erald Ndong and Marc Chaigneau},
     title = {Raman spectroscopy and polarization: {Selected} case studies},
     journal = {Comptes Rendus. Physique},
     pages = {837--852},
     publisher = {Elsevier},
     volume = {13},
     number = {8},
     year = {2012},
     doi = {10.1016/j.crhy.2012.06.001},
     language = {en},
}
TY  - JOUR
AU  - Razvigor Ossikovski
AU  - Gennaro Picardi
AU  - Gérald Ndong
AU  - Marc Chaigneau
TI  - Raman spectroscopy and polarization: Selected case studies
JO  - Comptes Rendus. Physique
PY  - 2012
SP  - 837
EP  - 852
VL  - 13
IS  - 8
PB  - Elsevier
DO  - 10.1016/j.crhy.2012.06.001
LA  - en
ID  - CRPHYS_2012__13_8_837_0
ER  - 
%0 Journal Article
%A Razvigor Ossikovski
%A Gennaro Picardi
%A Gérald Ndong
%A Marc Chaigneau
%T Raman spectroscopy and polarization: Selected case studies
%J Comptes Rendus. Physique
%D 2012
%P 837-852
%V 13
%N 8
%I Elsevier
%R 10.1016/j.crhy.2012.06.001
%G en
%F CRPHYS_2012__13_8_837_0
Razvigor Ossikovski; Gennaro Picardi; Gérald Ndong; Marc Chaigneau. Raman spectroscopy and polarization: Selected case studies. Comptes Rendus. Physique, Volume 13 (2012) no. 8, pp. 837-852. doi : 10.1016/j.crhy.2012.06.001. https://comptes-rendus.academie-sciences.fr/physique/articles/10.1016/j.crhy.2012.06.001/

[1] Raman Microscopy. Developments and Applications (G. Turrell; J. Corset, eds.), Elsevier, Amsterdam, 1996

[2] Practical Raman Spectroscopy (D.J. Gardiner; P.R. Graves, eds.), Springer, Berlin, 1989

[3] Raman Scattering in Materials Science (W.H. Weber; R. Merlin, eds.), Springer, Berlin, 2000

[4] I. De Wolf; H.E. Maes; S.K. Jones J. Appl. Phys., 79 (1996), p. 7148

[5] S. Narayanan; S.R. Kalidindi; L.S. Schadler J. Appl. Phys., 82 (1997), p. 2595

[6] I. De Wolf J. Raman Spectrosc., 30 (1999), p. 877

[7] B. Pettinger; B. Ren; G. Picardi; R. Schuster; G. Ertl Phys. Rev. Lett., 92 (2004), p. 096101

[8] M. Sackrow; C. Stanciu; M.A. Lieb; A.J. Meixner Chem. Phys. Chem., 9 (2008), p. 316

[9] A. Hartschuh; E.J. Sánchez; X.S. Xie; L. Novotny Phys. Rev. Lett., 90 (2003), p. 095503

[10] W. Zhang; B.S. Yeo; T. Schmid; R. Zenobi J. Phys. Chem. C, 111 (2007), p. 1733

[11] G. Picardi; M. Chaigneau; R. Ossikovski Chem. Phys. Lett., 469 (2009), p. 161

[12] D.A. Long The Raman effect. A Unified Treatment of the Theory of Raman Scattering by Molecules, Wiley, New York, 2002

[13] R. Loudon Adv. Phys., 13 (1964), p. 423

[14] E. Anastassakis J. Appl. Phys., 82 (1997), p. 1582

[15] R. Ossikovski; Q. Nguyen; G. Picardi Phys. Rev. B, 75 (2007), p. 045412

[16] A.L. Demming; F. Festy; D. Richards J. Chem. Phys., 122 (2005), p. 184716

[17] L. Aigouy; A. Lahrech; S. Grésillon; H. Cory; A.C. Boccara; J.C. Rivoal Opt. Lett., 24 (1999), p. 187

[18] G. Picardi; Q. Nguyen; J. Schreiber; R. Ossikovski Eur. Phys. J. Appl. Phys., 40 (2007), p. 197

[19] B. Ren; G. Picardi; B. Pettinger Rev. Sci. Instrum., 75 (2004), p. 837

[20] J. Michl; E.W. Thulstrup Spectroscopy with Polarized Light, VCH, Weinheim, 1986

[21] L. Barron Molecular Light Scattering and Optical Activity, Cambridge University Press, Cambridge, 2004

[22] M.L. Lee; E.A. Fitzgerald; M.T. Bulsara; M.T. Currie; A. Lochtefeld J. Appl. Phys., 97 (2005), p. 011101

[23] E. Anastassakis Light Scattering in Semiconductor Structures and Superlattices (D.J. Lockwood; J.F. Young, eds.), Plenum Press, New York, 1991

[24] E. Bonera; M. Fanciulli; D.N. Batchelder J. Appl. Phys., 94 (2003), p. 2729

[25] G.H. Loechelt; N.G. Cave; J. Menéndez J. Appl. Phys., 86 (1999), p. 6164

[26] R. Ossikovski; Q. Nguyen; G. Picardi; J. Schreiber; P. Morin J. Raman Spectrosc., 39 (2008), p. 661

[27] M. Becker; H. Scheel; S. Christiansen; H.P. Strunk J. Appl. Phys., 101 (2007), p. 063531

[28] R. Ossikovski; Q. Nguyen; G. Picardi; J. Schreiber J. Appl. Phys., 103 (2008), p. 093525

[29] J.C. Tsang; P.M. Mooney; F. Dacol; J.O. Chu J. Appl. Phys., 75 (1994), p. 8098

[30] J. Cornil; J.-L. Brédas; J. Zaumseil; H. Sirringhaus Adv. Mater. (Weinheim), 19 (2007), p. 1791

[31] I. Stenger; A. Frigout; D. Tondelier; B. Geffroy; R. Ossikovski; Y. Bonnassieux Appl. Phys. Lett., 94 (2009), p. 133301

[32] T. Jentzsch; H.J. Juepner; K.-W. Brzezinka; A. Lau Thin Solid Films, 315 (1998), p. 273

[33] M. Cazayous; A. Sacuto; G. Horowitz; Ph. Lang; A. Zimmers; R.P.S. Lobo Phys. Rev. B, 70 (2004), p. 081309

[34] H.L. Cheng; Y.S. Mai; W.Y. Chou; L.R. Chang Appl. Phys. Lett., 90 (2007), p. 171926

[35] R. He; I. Dujovne; L. Chen; Q. Miao; C.F. Hirjibehedin; A. Pinczuk; C. Nuckolls; C. Kloc; A. Ron Appl. Phys. Lett., 84 (2004), p. 987

[36] P. Potera; I. Stefaniuk; M. Kuźma Centr. Eur. J. Phys., 5 (2007), p. 165

[37] E.V. Tsiper; Z.G. Soos Phys. Rev. B, 68 (2003), p. 085301

[38] M. Pedio; B. Doyle; N. Mahne; A. Giglia; F. Borgatti; S. Nannarone; S.K.M. Henze; R. Temirov; F.S. Tautz; L. Casalis; R. Hudej; M.F. Danisman; B. Nickel Appl. Surf. Sci., 254 (2007), p. 103

[39] T. Ichimura; H. Watanabe; Y. Morita; P. Verma; S. Kawata; Y. Inouye J. Phys. Chem. C, 111 (2007), p. 9460

[40] N. Anderson; A. Hartschuh; S. Cronin; L. Novotny J. Am. Chem. Soc., 127 (2005), p. 2533

[41] M. Chaigneau; G. Picardi; R. Ossikovski Surf. Sci., 604 (2010), p. 701

[42] G. Picardi; Q. Nguyen; R. Ossikovski; J. Schreiber Appl. Spectrosc., 61 (2007), p. 1301

[43] Q. Nguyen; R. Ossikovski; J. Schreiber Opt. Commun., 74 (2007), p. 231

[44] A. Merlen; J.-C. Valmalette; P. Gucciardi; M. Lamy de la Chapelle; A. Frigout; R. Ossikovski J. Raman Spectrosc., 40 (2009), p. 1361

[45] G. Picardi; M. Chaigneau; R. Ossikovski; C. Licitra J. Raman Spectrosc., 40 (2009), p. 1407

[46] A. Ulman Chem. Rev., 96 (1996), p. 1533

[47] H. Wolf; H. Ringsdorf; E. Delamarche; T. Takami; H. Kang; B. Michel; Ch. Gerber; M. Jaschke; H.J. Butt; E. Bamberg J. Phys. Chem., 99 (1995), p. 7102

[48] D.R. Armstrong; J. Clarkson; W.E. Smith J. Phys. Chem., 99 (1995), p. 17825

[49] V. Stepanic; G. Baranovic; V. Smrecki J. Mol. Struct., 569 (2001), p. 89

[50] S.W. Han; C.H. Kim; S.H. Hong; Y.K. Chung; K. Kim Langmuir, 15 (1999), p. 1579

[51] K. Tamada; J. Nagasawa; F. Nakanishi; K. Abe; T. Ishida; M. Hara; W. Knoll Langmuir, 14 (1998), p. 3264

[52] T.G. Pedersen; P.S. Ramanujam; P.M. Hvilsted J. Opt. Soc. Am. B, 15 (1998), p. 2721

[53] R. Wang; T. Iyoda; L. Jiang; K. Hashimoto; A. Fujishima Chem. Lett., 25 (1996), p. 1005

[54] S.C.B. Mannsfeld; T.W. Canzler; T. Fritz; H. Proehl; K. Leo; S. Stumpf; G. Goretzki; K. Gloe J. Phys. B, 106 (2002), p. 2255

[55] M. Chaigneau; G. Picardi; R. Ossikovski Int. J. Mol. Sci., 12 (2011), p. 1245

[56] A. Frigout; M. Richert; R. Ossikovski Eur. Phys. J. Web Conf., 5 (2010), p. 06002

Cité par Sources :

Commentaires - Politique