Réseaux denses de défauts linéaires interfaciaux et dislocations de Somigliana

Ahlem Boussaid; Mustapha Fnaiech; Roland Bonnet

doi:10.1016/j.crhy.2004.11.012

Physique/Surfaces, Interfaces, Films

Réseaux denses de défauts linéaires interfaciaux et dislocations de Somigliana
[Dense networks of interfacial linear defects and Somigliana dislocations]

Presented by: Jacques Villain

Ahlem Boussaid ¹; Mustapha Fnaiech ¹; Roland Bonnet ²

¹ Laboratoire d'analyses structurales des materiaux, département de physique, faculté des sciences de Monastir, route de Kairouan, 5000 Monastir, Tunisie
² Institut national Polytechnique de Grenoble, laboratoire de thermodynamique et physico-chimie métallurgiques (unité mixte de recherche associée au CNRS 5614), École nationale supérieure d'électrochimie et d'électrochimie de Grenoble, domaine universitaire, BP 75, 38402 Saint Martin d'Hères, France

Comptes Rendus. Physique, Self-organization on surfaces, Volume 6 (2005) no. 1, pp. 145-150.

Abstract
Résumé

. A crystalline interface is often covered by a dense network of linear defects with a (pseudo) biperiodic geometry. The elastic field of this network is calculated by thinking the interface as paved by adjacent Somigliana dislocations. The analysis of a portion of an erratic zigzag line of a (001)Si low angle twist boundary, observed in two-beam transmission electron microscopy, is given as an example.

Une interface cristalline est souvent tapissée par un réseau dense de défauts linéaires dont la géométrie est (pseudo-) bipériodique. Le champ élastique de ce réseau est calculé en imaginant l'interface comme un pavage de dislocations de Somigliana adjacentes. Une analyse d'une portion de ligne zigzag erratique d'un sous-joint de torsion (001)Si, observée en microscopie électronique à transmission à deux ondes, est donnée en exemple.

Received: 2004-05-24
Accepted: 2004-11-30
Published online: 2004-12-28

DOI: 10.1016/j.crhy.2004.11.012

Mots-clés : Dislocation, Champ élastique, Interface, Somigliana
Keywords: Dislocation, Elastic field, Interface, Somigliana

Author's affiliations:

Ahlem Boussaid ¹; Mustapha Fnaiech ¹; Roland Bonnet ²

¹ Laboratoire d'analyses structurales des materiaux, département de physique, faculté des sciences de Monastir, route de Kairouan, 5000 Monastir, Tunisie
² Institut national Polytechnique de Grenoble, laboratoire de thermodynamique et physico-chimie métallurgiques (unité mixte de recherche associée au CNRS 5614), École nationale supérieure d'électrochimie et d'électrochimie de Grenoble, domaine universitaire, BP 75, 38402 Saint Martin d'Hères, France

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Ahlem Boussaid; Mustapha Fnaiech; Roland Bonnet. Réseaux denses de défauts linéaires interfaciaux et dislocations de Somigliana. Comptes Rendus. Physique, Self-organization on surfaces, Volume 6 (2005) no. 1, pp. 145-150. doi : 10.1016/j.crhy.2004.11.012. https://comptes-rendus.academie-sciences.fr/physique/articles/10.1016/j.crhy.2004.11.012/

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