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Volume 15 (2014)
no. 2-3
Numéro spécial
Seeing and measuring with electrons: Transmission Electron Microscopy today and tomorrow
Rédacteur en chef invité :
Christian Colliex
Sommaire
Editorial Board
p. IFC
Dossier Sommaire
p. iii-iv
Electron microscopy / Microscopie électronique
Seeing and measuring with electrons: Transmission electron microscopy today and tomorrow – An introduction
[Voir et mesurer avec un faisceau d'électrons : La microscopie électronique à transmission aujourd'hui et demain – Une introduction]
Christian Colliex
p. 101-109
Electron microscopy / Microscopie électronique
Future directions in high-resolution electron microscopy: Novel optical components and techniques
[L'avenir de la microscopie électronique à haute résolution : Éléments et techniques innovantes]
Peter Hawkes
p. 110-118
Electron microscopy / Microscopie électronique
Measuring three-dimensional positions of atoms to the highest accuracy with electrons
[Utiliser un faisceau d'électrons pour mesurer dans l'espace tridimensionnel la position des atomes avec la plus grande précision]
Christoph T. Koch
;
Wouter Van den Broek
p. 119-125
Electron microscopy / Microscopie électronique
Interferometric methods for mapping static electric and magnetic fields
[Méthodes interférométriques pour cartographier des champs électriques et magnétiques statiques]
Giulio Pozzi
;
Marco Beleggia
;
Takeshi Kasama
;
Rafal E. Dunin-Borkowski
p. 126-139
Electron microscopy / Microscopie électronique
Seeing and measuring in 3D with electrons
[Voir et mesurer dans l'espace 3D avec des électrons]
Sara Bals
;
Bart Goris
;
Thomas Altantzis
;
Hamed Heidari
;
Sandra Van Aert
;
Gustaaf Van Tendeloo
p. 140-150
Electron microscopy / Microscopie électronique
Elemental analysis down to the single atom with electron beams
[Analyse élémentaire d'un atome individuel avec un faisceau d'électrons]
Kazu Suenaga
p. 151-157
Electron microscopy / Microscopie électronique
Seeing and measuring in colours: Electron microscopy and spectroscopies applied to nano-optics
[Voir et mesurer en couleur : microscopie et spectroscopies électroniques pour la nano-optique]
Mathieu Kociak
;
Odile Stéphan
;
Alexandre Gloter
;
Luiz F. Zagonel
;
Luiz H.G. Tizei
;
Marcel Tencé
;
Katia March
;
Jean Denis Blazit
;
Zackaria Mahfoud
;
Arthur Losquin
;
Sophie Meuret
;
Christian Colliex
p. 158-175
Electron microscopy / Microscopie électronique
Seeing in 4D with electrons: Development of ultrafast electron microscopy at Caltech
[Voir en 4D avec des électrons : développement de la microscopie électronique ultra-rapide au Caltech]
J. Spencer Baskin
;
Ahmed H. Zewail
p. 176-189
Electron microscopy / Microscopie électronique
Shaping electron beams for the generation of innovative measurements in the (S)TEM
[Réaliser des mesures originales et innovantes en adaptant le faisceau d'électrons d'un (S)TEM]
Jo Verbeeck
;
Giulio Guzzinati
;
Laura Clark
;
Roeland Juchtmans
;
Ruben Van Boxem
;
He Tian
;
Armand Béché
;
Axel Lubk
;
Gustaaf Van Tendeloo
p. 190-199
Electron microscopy / Microscopie électronique
Visualising reacting single atoms under controlled conditions: Advances in atomic resolution
in situ
Environmental (Scanning) Transmission Electron Microscopy (E(S)TEM)
[Voir des atomes individuels en cours de réaction sous conditions contrôlées : Progrès récents en microscopie électronique (
à balayage
) en transmission environnementale in situ (E(S)TEM)]
Edward D. Boyes
;
Pratibha L. Gai
p. 200-213
Electron microscopy / Microscopie électronique
Liquid scanning transmission electron microscopy: Nanoscale imaging in micrometers-thick liquids
[Microscopie électronique à balayage en transmission en phase liquide : Imager à l'échelle du nanomètre à travers des films liquides de plusieurs micromètres d'épaisseur]
Tobias Schuh
;
Niels de Jonge
p. 214-223
Electron microscopy / Microscopie électronique
In situ mechanical TEM: Seeing and measuring under stress with electrons
[Voir et mesurer sous contrainte mécanique avec des électrons : La microscopie électronique à transmission (MET) in situ]
Marc Legros
p. 224-240
Electron microscopy / Microscopie électronique
Using electron beams to investigate carbonaceous materials
[Apports de la microscopie électronique à l'étude des matériaux carbonés]
Clemens Mangler
;
Jannik C. Meyer
p. 241-257
Electron microscopy / Microscopie électronique
Using electron beams to investigate catalytic materials
[Apports de la microscopie électronique à l'étude des matériaux catalytiques]
Bingsen Zhang
;
Dang Sheng Su
p. 258-268
Electron microscopy / Microscopie électronique
Networking strategies of the microscopy community for improved utilisation of advanced instruments: (1) The Australian Microscopy and Microanalysis Research Facility (AMMRF)
[Stratégies de mise en réseau élaborées par les communautés de la microscopie électronique pour optimiser l'utilisation des nouvelles plateformes instrumentales : (1) Le réseau australien de recherche en microscopie et microanalyse (AMMRF)]
Simon P. Ringer
;
Miles H. Apperley
p. 269-275
Electron microscopy / Microscopie électronique
Networking strategies of the microscopy community for improved utilization of advanced instruments: (2) The national network for transmission electron microscopy and atom probe studies in France (METSA)
[Stratégies de mise en réseau élaborées par les communautés de la microscopie électronique pour optimiser l'utilisation des nouvelles plateformes instrumentales : (2) Le réseau français de microscopie électronique et de sonde atomique (METSA)]
Thierry Épicier
;
Étienne Snoeck
p. 276-280
Electron microscopy / Microscopie électronique
Networking strategies of the microscopy community for improved utilisation of advanced instruments: (3) Two European initiatives to support TEM infrastructures and promote electron microscopy over Europe, ESTEEM (2006–2011) and ESTEEM 2 (2012–2016)
[Stratégies de mise en réseau élaborées par les communautés de la microscopie électronique pour optimiser l'utilisation des nouvelles plateformes instrumentales : (3) Deux initiatives européennes pour soutenir les infrastructures MET et promouvoir la microscopie électronique en Europe, ESTEEM (2006–2011) and ESTEEM 2 (2012–2016)]
Etienne Snoeck
;
Gustaaf Van Tendeloo
p. 281-284
Une transition liquide–gaz pour des bosons en interaction attractive à une dimension
Christopher Herzog
;
Maxim Olshanii
;
Yvan Castin
p. 285-296
Editorial Board
p. IBC