Comptes Rendus

Synchrotron x-rays and condensed matter
[Rayonnement X synchrotron et matière condensée]

Sommaire



p. iii-iv


X-rays and matter – the basic interactions
[Rayons X et matière – les interactions fondamentales]
p. 479-486

X radiation sources based on accelerators
[Sources de rayonnement X reposant sur l'emploi d'accélérateurs]
p. 487-506

High energy X-ray micro-optics
[Micro-optique pour rayons X de haute énergie]
p. 507-516

Does band mapping find its limits in the soft X-ray range?
[La détermination de la structure de bandes trouve-t-elle ses limites dans le domaine des rayons X mous ?]
p. 517-523

Hard X-ray PhotoEmission Spectroscopy of strongly correlated systems
[Spectroscopie de photoémission X à haute énergie dans les matériaux fortement corrélés]
p. 524-536


Magnetic and resonant X-ray scattering investigations of strongly correlated electron systems
[Étude de systèmes électroniques fortement corrélés par diffusion magnétique et résonnante des rayons X]
p. 550-569

Soft X-ray resonant magnetic scattering of magnetic nanostructures
[Diffusion magnétique résonnante des rayons X mous dans les nanostructures magnétiques]
p. 570-584

Magnetization dynamics: ultra-fast and ultra-small
[Dynamique de magnétisation : ultra-rapide et ultra-petit]
p. 585-594

Nuclear resonance scattering
[La diffusion nucléaire résonnante]
p. 595-607

High-resolution inelastic x-ray scattering to study the high-frequency atomic dynamics of disordered systems
[Diffusion inélastique de rayons X à haute résolution pour l'investigation de la dynamique atomique de haute fréquence dans les systèmes désordonnés]
p. 608-623


X-ray detected optical activity
[Activité Optique mesurée par rayons X]
p. 642-656

A review of X-ray intensity fluctuation spectroscopy
[Une revue de la spectroscopie de fluctuation d'intensité des rayons X]
p. 657-667

X-Ray Photon Correlation Spectroscopy at the European X-Ray Free-Electron Laser (XFEL) facility
[Spectroscopie de corrélation de photons X (XPCS) à l'installation européenne de laser aux électrons libres (XFEL)]
p. 668-680